Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "deep traps" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-3 z 3
Tytuł:
Graphene Schottky barrier diode acting as a semi-transparent contact to n-GaN
Autorzy:
Kruszewski , Piotr
Sai, Pavlo
Krajewska, Aleksandra
Sakowski, Konrad
Ivonyak, Yurii
Jakieła, Rafał
Plesiewicz, Jerzy
Prystawko, Paweł
Współwytwórcy:
Kruszewski , Piotr
Tematy:
Engineering
Physics
Graphene, gallium nitride, deep traps, defects, Deep Level Optical Spectroscopy, Steady State Photo Capacitance, Schottky barrier
Pokaż więcej
Data publikacji:
2024-07-15
Wydawca:
RepOD
Dostawca treści:
Repozytorium Otwartych Danych
Inne
Tytuł:
Identyfikacja centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych 4H-SiC
Identification of defect centers in 4H-SiC epitaxial layers
Autorzy:
Kozubal, Michał
Tematy:
defekty punktowe
głębokie pułapki
DLTS
napromieniowanie elektronami
SiC
point defects
deep traps
electron irradiation
Pokaż więcej
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 2013 T.41 nr 1
Identyfikacja centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych 4H-SiC
Identyfikacja centrów defektowych w warstwach epitaksjalnych 4H-SiC = Identification of defect centers in 4H-SiC epitaxial layers
Autorzy:
Kozubal Michał
Data publikacji:
2013
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-3 z 3

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies