Autor: Grabiec, Roman - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Nierówności społeczne w polskim systemie ubezpieczeń społecznych
Social inequalities in the Polish Social Security System
Социальное неравенство в польской системе социального страхования
Autorzy:: Grabiec, Roman
Tematy:: nierówności społeczne
dyskryminacja
system ubezpieczeń społecznych
indywidualne konto społeczne
grupy zawodowe
Social inequalities
discrimination
social security system
individual social security account
occupational groups; Pokaż więcej
Data publikacji:: 2017
Wydawca:: Uniwersytet Rzeszowski. Wydawnictwo Uniwersytetu Rzeszowskiego
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wytwarzanie przyrządów elektroniki kwantowej metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Współwytwórcy:: Masalska, Agata
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Zawierucha, Paweł
Kolanek, Krzysztof
Zielony, Michał
Gotszalk, Teodor Paweł
Janus, Paweł
Woszczyna, Mirosław
Grabiec, Piotr
Instytut Technologii Elektronowej
Szeloch, Roman F. (1931- )
Mulak, Piotr
Data publikacji:: 2006
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych
Współwytwórcy:: Masalska, Agata
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Sankowska, Anna
Zawierucha, Paweł
Kolanek, Krzysztof
Wielgoszewski, Grzegorz
Zielony, Michał
Gotszalk, Teodor Paweł
Janus, Paweł
Woszczyna, Mirosław
Grabiec, Piotr
Instytut Technologii Elektronowej
Szeloch, Roman F. (1931- )
Mulak, Piotr
Data publikacji:: 2006
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Diagnostics of micro- and nanostructure using the scanning probe microscopy
Współwytwórcy:: Grabiec, Piotr
Gotszalk, Teodor Paweł
Janus, Paweł
Radojewski, Jacek
Czarnecki, Piotr
Marendziak, Andrzej
Szeloch, Roman F. (1931- )
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Metody mikroskopii bliskiego pola od mikro- do nanoelektroniki : diagnostyka, wytwarzanie
Współwytwórcy:: Mitura, Stanisław
Politechnika Łódzka. Wydział Mechaniczny
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Szmidt, Jan
Kolanek, Krzysztof
Gotszalk, Teodor Paweł
Instytut Technologii Elektronowej
Grabiec, Piotr
Sikora, Andrzej
Szeloch, Roman F. (1931- )
Politechnika Warszawska. Wydział Elektroniki i Technik Informacyjnych. Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Nadprzewodnikowy detektor pojedynczych fotonów z NbN sprzęgnięty ze światłowodem
Współwytwórcy:: Bar, Jan
Słysz, Wojciech
Sobolewski, Roman
Instytut Technologii Elektronowej
Grabiec, Piotr
Węgrzecki, Maciej
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Nanomiernictwo mikro- i nanostruktur metodami mikroskopii bliskich oddziaływań
Współwytwórcy:: Masalska, Agata
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Kolanek, Krzysztof
Marendziak, Andrzej
Gotszalk, Teodor Paweł
Janus, Paweł
Woszczyna, Mirosław
Grabiec, Piotr
Instytut Technologii Elektronowej
Szeloch, Roman F. (1931- )
Radojewski, Jacek
Data publikacji:: 2005
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Diagnostyka materiałów i układów mikro- i nanolektronicznych metodami modularnej mikroskopii bliskich oddziaływań
Współwytwórcy:: Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Kolanek, Krzysztof
Marendziak, Andrzej
Gotszalk, Teodor Paweł
Grabiec, Piotr
Sikora, Andrzej
Szeloch, Roman F. (1931- )
Hasek, Tomasz
Radojewski, Jacek
Data publikacji:: 2004
Dostawca treści:: Academica

Artykuł

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "Grabiec, Roman" wg kryterium: Autor

Źródło danych

Dostawca treści

Rok wydania

Wydawca

Temat

Autor

Typ dokumentu

Język

Kolekcja