Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych

Tytuł:: Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych
Współwytwórcy:: Masalska, Agata
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Sankowska, Anna
Zawierucha, Paweł
Kolanek, Krzysztof
Wielgoszewski, Grzegorz
Zielony, Michał
Gotszalk, Teodor Paweł
Janus, Paweł
Woszczyna, Mirosław
Grabiec, Piotr
Instytut Technologii Elektronowej
Szeloch, Roman F. (1931- )
Mulak, Piotr
Data publikacji:: 2006
Język:: polski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Materiały z konferencji: Metrologia Kwantowa; Poznań, 9-10 maja 2006.

Streszcz. ang.

Informacja