Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "płytka" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Pomiar długozasięgowego odchylenia od płaskości powierzchni płytek Si za pomocą HR XRR
Measurement of long range surface flatness deviation of Si wafers by means of HR XRR method
Autorzy:
Mazur, K.
Sass, J.
Surma, B.
Piątkowski, B.
Wnuk, A.
Gładki, A.
Turos, A.
Tematy:
płytka Si
reflektrometria rentgenowska
Si wafers
X-Ray reflectrometry
Pokaż więcej
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wpływ procesu produkcji na jakość płytek drukowanych PCB dla branży motoryzacyjnej
The impact of the production process on the quality of PCB in the automotive industry
Autorzy:
Niekurzak, Mariusz
Kubińska-Jabcoń, Ewa
Tematy:
płytka drukowana
proces produkcyjny
motoryzacja
tapped plate
production process
automotive
Pokaż więcej
Data publikacji:
2019
Wydawca:
Instytut Naukowo-Wydawniczy "SPATIUM"
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Pomiar koncentracji nośników ładunku w płytkach monokryształów objętościowych i warstwach epitaksjalnych SiC za pomocą sondy rtęciowej
Measurement of charge carrier concentration in SiC wafers of bulk crystals and epitaxial layers using mercury probe
Autorzy:
Brzozowski, A.
Tematy:
warstwa epitaksjalna
płytka monokryształów objętościowych
wyznaczanie koncentracji nośników ładunku
kalibracja sondy rtęciowej
Pokaż więcej
Data publikacji:
2008
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Zastosowanie metody płytkiej refrakcji sejsmicznej do określania własności fizycznych warstw czwartorzędowych
Application of the method of shallow seismic refraction in determining physical properties of Quaternary strata
Autorzy:
Siata, R.
Tematy:
płytka refrakcja sejsmiczna
badania refrakcyjne
granice litologiczne
shallow seismic refraction
refraction
lithological boundaries
Pokaż więcej
Data publikacji:
2003
Wydawca:
Główny Instytut Górnictwa
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wykorzystanie tomografii elektrooporowej do lokalizacji płytkich pustek w górotworze
The use of electrical resistivity tomography for identification of shallow voids inside the rock mass
Autorzy:
Ścigała, R.
Szafulera, K.
Kruczkowski, M.
Tomiczek, K.
Tematy:
deformacje nieciągłe
płytka eksploatacja
metoda elektrooporowa
discontinuous deformations
shallow extraction
electrical resistivity method
Pokaż więcej
Data publikacji:
2017
Wydawca:
STE GROUP
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Tendencje technologiczne w produkcji płytek krzemowych = Trends in silicon wafers production
Materiały Elektroniczne 1976 nr 2(14)
Tendencje technologiczne w produkcji płytek krzemowych
Autorzy:
Drzewiecki Paweł
Współwytwórcy:
Jaskólska Anna
Czerwińska Anna
Data publikacji:
1976
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Biofilm bakteryjny płytki nazębnej i jego znaczenie w chorobach jamy ustnej psów i kotów
Biofilm of dental plaque and its involvement in dogs and cats oral cavity diseases
Autorzy:
Dardzinska, W.
Dworecka-Kaszak, B.
Tematy:
psy
koty
choroby jamy ustnej
choroby przyzebia
plytka nazebna
biofilm bakteryjny plytki nazebnej
Pokaż więcej
Data publikacji:
2014
Wydawca:
Krajowa Izba Lekarsko-Weterynaryjna
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Ocena głębokości stropu sitowia oraz długości płytki bocznej blaszki sitowej, położenia górnego przyczepu wyrostka haczykowatego i tętnicy sitowej przedniej w oparciu o wielopłaszczyznowe rekonstrukcje tomografii komputerowej
Autorzy:
Berger, Greta
Grinevych, Vitalii
Milewska, Anna Justyna
Łukasiewicz, Adam
Tarasów, Eugeniusz
Tematy:
płytka boczna blaszki sitowej
rekonstrukcje wielopłaszczyznowe
tętnica sitowa przednia
tomografia komputerowa
wyrostek haczykowaty
Pokaż więcej
Data publikacji:
2020
Wydawca:
Index Copernicus International
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Górnośląski system informacji przestrzennej o zagrożeniach powierzchni na terenach pogórniczych
Upper Silesian system of information about surface hazards on abandoned mining areas
Autorzy:
Kotyrba, A.
Frolik, A.
Kortas, Ł.
Siwek, S.
Tematy:
górnictwo
zlikwidowane kopalnie
płytka eksploatacja
zagrożenia
zapadliska
mining
abandoned mines
shallow exploitation
surface hazards
Pokaż więcej
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Gospodarki Surowcami Mineralnymi i Energią PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analiza powierzchniowego rozmieszczenia nasion pszenicy po odbiciu od płytki rozpraszającej
Analysis of the surface arrangement of wheat seeds after glancing off the dispersing plate
Autorzy:
Lipiński, A.
Tematy:
płytka rozpraszająca
kąt ustawienia
rozmieszczenie
nasiona
dispersing plate
angle of plate positioning
arrangement
seeds
Pokaż więcej
Data publikacji:
2006
Wydawca:
Polskie Towarzystwo Inżynierii Rolniczej
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Analizy fizykochemiczne ceramicznych płytek ściennych z Pałacu Herbsta w Łodzi
Physical - chemical analyses of the wall tiles from Herbst Palace in Łódź for the purpose of their reconstruction
Autorzy:
Stoksik, H.
Tematy:
płytka ścienna
płytka ceramiczna
analiza fizykochemiczna masy ceramicznej
analiza fizykochemiczna szkliwa
Pałac Herbsta
Łódź
Polska
wall tile
ceramic tile
physico-chemical analyses of ceramic mass
physico-chemical analyses of glazes
Herbst Palace
Polska
Pokaż więcej
Data publikacji:
2013
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
Tytuł:
Wpływ zawartości płytkich domieszek na właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC. Praca doktorska
Wpływ zawartości płytkich domieszek na właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC. Praca doktorska = Effect shallow impurities on the properties and concentrations of deep-level defect centres in SiC
Prace doktorskie
Autorzy:
Kozubal Michał
Współwytwórcy:
Kamiński, Paweł. Promotor.
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Charakteryzacja porównawcza podstawowych materiałów AIIIBV dla potrzeb epitaksji
Materiały Elektroniczne 1997 T.25 nr 4
Charakteryzacja porównawcza podstawowych materiałów AIIIBV dla potrzeb epitaksji =
Autorzy:
Jasik Agata
Współwytwórcy:
Kosiel Kamil
Strupiński Włodzimierz
Data publikacji:
1997
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies