- Tytuł:
- A probabilistic approach for approximation of optical and opto-electronic properties of an opto-semiconductor wafer under consideration of measuring inaccuracy and model uncertainty
- Autorzy:
-
Stroka, Stefan M.
Heumann, Christian
Suhrke, Fabian
Meindl, Kathrin - Tematy:
-
Gaussian process regression
machine learning
uncertainty quantification
photoluminescence
opto-semiconductor wafer measuring - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2023
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Stowarzyszenie Elektryków Polskich
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł