Temat: electronic journal - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: 15R-SiC w kryształach 4H- i 6H-SiC otrzymywanych metodą transportu fizycznego z fazy gazowej
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 3
15R-SiC w kryształach 4H- i 6H-SiC otrzymywanych metodą transportu fizycznego z fazy gazowej = 15R-SiC inclusions in 4H-and 6H-SiC crystals grown by the physical vapour transport method
Autorzy:: Tymicki Emil
Współwytwórcy:: Grasza Krzysztof
Mazur Krystyna
Diduszko Ryszard
Łukasiewicz Tadeusz
Racka Katarzyna
Kościewicz Kinga
Raczkiewicz Marcin
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: A constribution to the sonsideration of the synthesis of compounds by the reaction sintering of Oxide powders = Niektóre aspekty reakcji składników w procesie spiekania sproszkowanych tlenków
Materiały Elektroniczne 1977 nr 3(19)
A constribution to the sonsideration of the synthesis of compounds by the reaction sintering of Oxide powders
Autorzy:: Kostič-Gvozdenovič Lj.
Data publikacji:: 1977
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: A method for correction of elastic and piezoelectric constants of crystals using measured surface acoustic wave parameters = Metoda korekcji stałych elastycznych i piezoelektrycznych kryształów z wykorzystaniem zmierzonych parametrów akustycznych fal powierzchniowych
A method for correction of elastic and piezoelectric constants of crystals using measured surface acoustic wave parameters
Materiały Elektroniczne 2011 T.39 nr 2
Autorzy:: Brzozowski Ernest
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Active fluoride glasses
Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 3
Autorzy:: Szczepański Paweł
Data publikacji:: 1994
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Amorphous chalcogenide semiconductors for solid state dosimetric systems of high-energetic ionizing radiation = Chalkogenkowe półprzewodniki amorficzne do systemów dozymetrycznych wysokoenergetycznego promieniowania jonizującego na podstawie ciał stałych
Materiały Elektroniczne 1997 T.25 nr 3
Amorphous chalcogenide semiconductors for solid state dosimetric systems of high-energetic ionizing radiation
Autorzy:: Shpotyuk Oleg
Data publikacji:: 1997
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS = Error analysis of the parameters of the defect centres determined by the photoinduced transient spectroscopy PITS
Analiza błędu wartości parametrów centrów defektowych wyznaczanych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej PITS
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 2
Autorzy:: Pawłowski, Michał.
Pawłowski Michał
Współwytwórcy:: Suproniuk Marek
Suproniuk, Marek.
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG, Cz. II
Analiza defektów występujących w strukturze krzemu na podstawie obserwacji taśm krzemowych otrzymanych metodą EPG. Cz. II = An analysis of the defects occuring in silicon structure on the base of EPG silicon ribbon observation. Part II
Materiały Elektroniczne 1979 nr 2(26)
Autorzy:: Ciszewski Bohdan
Współwytwórcy:: Kącki Jerzy
Data publikacji:: 1980
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej = Analysis of experimental method characterizing powder materials used in electronic technology
Analiza metod badawczych materiałów proszkowanych stosowanych w technice elektronowej
Materiały Elektroniczne 1984 nr 3(47)
Autorzy:: Ważyńska Barbara
Współwytwórcy:: Świerczyńska Maria Barbara
Data publikacji:: 1984
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Analiza możliwości wykorzystania szkieł wieloskładnikowych do wytwarzania światłowodów do przesyłania promieniowania z zakresu średniej podczerwieni = The possibility of application of multicomponent glasses for MID infrared (2-3,5 micrometer) waveguide manufacturing
Materiały Elektroniczne 1997 T.25 nr 1
Analiza możliwości wykorzystania szkieł wieloskładnikowych do wytwarzania światłowodów do przesyłania promieniowania z zakresu średniej podczerwieni
Autorzy:: Pysz Dariusz
Współwytwórcy:: Kociszewski Longin
Stępień Ryszard
Data publikacji:: 1997
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci
Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 4
Analiza możliwości zastosowania wysokorozdzielczej dyfraktomaterii rentgenowskiej do badań parametrów strukturalnych warstw epitaksjalnych i supersieci = The possibility of application of high resolution x-ray diffraction for determination the structural parameters of epilayers and superlattices
Autorzy:: Sass Jerzy
Data publikacji:: 1994
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "electronic journal" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Rok wydania

Wydawca

Temat

Słowa kluczowe

Autor

Typ dokumentu

Język

Forma i typ

Kolekcja