Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Mikroskop - stosowanie - fizyka" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Effect of N₂⁺ ion implantation and thermal annealing on near-surface layers of implanted GaAs
Współwytwórcy:
Droździel, Andrzej
Kulik, Mirosław
Surowiec, Zbigniew (fizyk)
Rzodkiewicz, Witold
Filiks, Janusz
Tematy:
Tlenki - fizyka
Mikroskop sił atomowych - stosowanie
Spektroskopia rozpraszania wstecznego Rutherforda
Elipsometria
Implantacja jonów
Azot - fizyka
Arsenek galu - fizyka
Pokaż więcej
Data publikacji:
2015
Dostawca treści:
Academica
Artykuł

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies