- Tytuł:
- Zastosowanie termowizji w badaniach nieniszczących i w mikroelektronice
- Współwytwórcy:
-
Lis, Marcin
Zwolenik, Sławomir
Więcek, Bogusław
Wajman, Tomasz
Danych, Remigiusz - Data publikacji:
- 2002
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.