Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Nalik, D." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Zautomatyzowany pomiar wybranych parametrów urządzeń systemów komórkowych w standardzie E1
Automatic measurement of selected parameters of mobile system devices in standard E1
Autorzy:
Hasse, L.
Nalik, D.
Michalski, J.
Tematy:
testowanie urządzeń systemu GSM
kodowanie Hamminga
pomiar bitowej stopy błędów
Hamming coding
measurement of bit error rate
GSM system equipment testing
Pokaż więcej
Data publikacji:
2007
Wydawca:
Politechnika Gdańska. Wydział Elektrotechniki i Automatyki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies