Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki BIBLIOTEKA UCZELNIANA PANS W PRZEMYŚLU  Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBIBLIOTEKA UCZELNIANA PANS W PRZEMYŚLU 

Wyszukujesz frazę "Hofman Władysław" wg kryterium: Autor

  Lista filtrów
Wyrównaj
Wyświetlanie 1-10 z 15
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1983 nr 3(43)
Identyfikacja i pochodzenie wtrąceń w syntetycznym kwarcu = Identification and genesis of inclusions in hydrothermally-grown quartz crystals
Identyfikacja i pochodzenie wtrąceń w syntetycznym kwarcu
Autorzy:
Hofman Władysław
Data publikacji:
1983
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1088 nr 1(61)
Modelowanie zmian prędkości wzrostu monokryształów kwarcu = The modeling of growth rate variations of quartz single crystals
Materiały Elektroniczne 1(61)/1988
Modelowanie zmian prędkości wzrostu monokryształów kwarcu
Autorzy:
Hofman Władysław
Data publikacji:
1988
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Wzrost i obróbka monokryształów szafiru o średnicach 1" i 2" = Growth and machining of 1" and 2" of sapphire
Wzrost i obróbka monokryształów szafiru o średnicach 1" i 2"
Materiały Elektroniczne 2003 T.31 nr 3/4
Autorzy:
Hofman Władysław
Współwytwórcy:
Kisielewski Jarosław
Data publikacji:
2003
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1995 T.23 nr 4
Technologia podłoży kwarcowych do rezonatorów i filtrów z akustyczną fala powierzchniową
Technologia podłoży kwarcowych do rezonatorów i filtrów z akustyczną fala powierzchniową = Technology of quartz substrates for SAW resonators and filters
Autorzy:
Hofman Władysław
Współwytwórcy:
Soluch Waldemar
Wróbel Tadeusz
Data publikacji:
1995
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Tytuł:
Badanie defektów krystalograficznych generowanych w trakcie operacji wytwarzania tranzystora p-n-p = Examination of crystallographic defects during p-n-p transistor process technology
Materiały Elektroniczne 1978 nr 3(23)
Badanie defektów krystalograficznych generowanych w trakcie operacji wytwarzania tranzystora p-n-p
Autorzy:
Hofman Władysław
Współwytwórcy:
Pawłowska Marta
Wąsowski Jan
Wierzchowski Wojciech
Data publikacji:
1979
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Szczegóły
Wyświetlanie 1-10 z 15

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies