- Tytuł:
- Study of electro-thermal stress of IGBT devices
- Autorzy:
-
Shaban, M. A.
Ettomi, Y. - Tematy:
-
electro-thermal stress
IGBT
Insulated Gate Bipolar Transistor - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2013
- Wydawca:
- Politechnika Poznańska. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł