Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Bilski, A." wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-9 z 9
Tytuł:
Automatic parametric fault detection in complex analog systems based on a method of minimum node selection
Autorzy:
Bilski, A.
Wojciechowski, J.
Tematy:
complex analog system
support vector machine (SVM)
tabu search
genetic algorithm
parametric fault detection
system analogowy
maszyna wektorów wspierających
metoda tabu search
algorytm genetyczny
detekcja uszkodzeń
Pokaż więcej
Data publikacji:
2016
Wydawca:
Uniwersytet Zielonogórski. Oficyna Wydawnicza
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-9 z 9

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies