- Tytuł:
- Analiza strat powstających podczas załączania pary tranzystorów mocy MOS-FET oraz IGBT, pracujących w przekształtnikach rezonansowych
- Autorzy:
- Balcerak, Michał
- Współwytwórcy:
- Zymmer, Krzysztof. Rec.
- Data publikacji:
- 2010
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł