- Tytuł:
- Metodyka doboru parametrów i struktury wielopunktowego systemu pomiarowego do tomografii impedancyjnej
- Autorzy:
- Oskwarek, Łukasz
- Data publikacji:
- 2004
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł
Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.