- Tytuł:
- Microhardness and the Young modulus of thin, MBE-grown, (Sn,Mn)Te layers containing up to 8% of Mn
- Współwytwórcy:
-
Szuszkiewicz, Wojciech. Autor
Reszka, Anna (fizyk). Autor
Minikayev, Roman. Autor
Zięba, Monika (fizyk). Autor
Adamiak, Stanisław (inżynieria materiałowa). Autor
Taliashvili, Badri. Autor - Tematy:
-
Epitaksja
Krystalografia rentgenowska
Twardość
Mangan (pierwiastek)
Cienkie warstwy (technika)
Moduł Younga - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2017
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł