- Tytuł:
- Low-angle X-ray spectroscopy and reflectometry techniques in interdisciplinary applications
- Współwytwórcy:
-
Szlachetko, Jakub. Autor
Instytut Fizyki (Uniwersytet Jana Kochanowskiego ; Kielce)
Braziewicz, Janusz. Autor
Kubala-Kukuś, Aldona. Autor
Instytut Zdrowia Publicznego (Uniwersytet Jana Kochanowskiego ; Kielce)
Instytut Fizyki Jądrowej im. Henryka Niewodniczańskiego
Stachura, Regina. Autor
Banaś, Dariusz. Autor
Góźdź, Stanisław (1948- ). Autor
Stabrawa, Ilona. Autor
Pajek, Marek. Autor
Piwowarczyk, M. Autor
Świętokrzyskie Centrum Onkologii (Kielce)
Wudarczyk-Moćko, Jolanta. Autor
Semaniak, Jacek (1964- ). Autor
Jagodziński, Paweł (fizyk). Autor
Jabłoński, Łukasz (fizyk) Autor
Sobota, Daniel (fizyk) Autor
Szary, Karol (fizyk). Autor - Tematy:
-
Promieniowanie rentgenowskie
Reflektometria rentgenowska
Zastosowanie i wykorzystanie
Spektroskopia rentgenowska - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2021
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł