Temat: płytka - Prolib Integro

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Tendencje technologiczne w produkcji płytek krzemowych = Trends in silicon wafers production
Materiały Elektroniczne 1976 nr 2(14)
Tendencje technologiczne w produkcji płytek krzemowych
Autorzy:: Drzewiecki Paweł
Współwytwórcy:: Jaskólska Anna
Czerwińska Anna
Data publikacji:: 1976
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Wpływ zawartości płytkich domieszek na właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC. Praca doktorska
Wpływ zawartości płytkich domieszek na właściwości i koncentrację głębokich centrów defektowych w monokryształach SiC. Praca doktorska = Effect shallow impurities on the properties and concentrations of deep-level defect centres in SiC
Prace doktorskie
Autorzy:: Kozubal Michał
Współwytwórcy:: Kamiński, Paweł. Promotor.
Data publikacji:: 2011
Wydawca:: Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Charakteryzacja porównawcza podstawowych materiałów AIIIBV dla potrzeb epitaksji
Materiały Elektroniczne 1997 T.25 nr 4
Charakteryzacja porównawcza podstawowych materiałów AIIIBV dla potrzeb epitaksji =
Autorzy:: Jasik Agata
Współwytwórcy:: Kosiel Kamil
Strupiński Włodzimierz
Data publikacji:: 1997
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Wzrost i obróbka monokryształów szafiru o średnicach 1" i 2" = Growth and machining of 1" and 2" of sapphire
Wzrost i obróbka monokryształów szafiru o średnicach 1" i 2"
Materiały Elektroniczne 2003 T.31 nr 3/4
Autorzy:: Hofman Władysław
Współwytwórcy:: Kisielewski Jarosław
Data publikacji:: 2003
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1979 nr 1(25)
Metoda kontrolowanego zaokrąglania płytek krzemowych
Metoda kontrolowanego zaokrąglania płytek krzemowych = The method of the controllable silicon wafer edge rounding
Autorzy:: Grudzieński Andrzej
Współwytwórcy:: Tomaszewski Jacek
Nossarzewska-Orłowska Elżbieta
Data publikacji:: 1980
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1979 nr 1(25)
Badanie powierzchniowej warstwy uszkodzonej na płytkach monokrystalicznych krzemu
Badanie powierzchniowej warstwy uszkodzonej na płytkach monokrystalicznych krzemu = Investigation of the damaged surface layer on monocrystalline silicon wafers
Autorzy:: Łazowy Barbara
Data publikacji:: 1980
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 7.

Tytuł:: Łączenie termiczne płytek krzemowych
Materiały Elektroniczne 1996 T.24 nr 4
Łączenie termiczne płytek krzemowych = Thermal bonding of silicon wafers
Autorzy:: Zabierowski Piotr
Współwytwórcy:: Piątkowski Bronisław
Data publikacji:: 1996
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 8.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 1976 nr 4(16)
Materiały Elektroniczne 4(16)/1976
Chemiczne trawienie płytek krzemu w mieszaninie HNO3-HF-CH3COOH
Chemiczne trawienie płytek krzemu w mieszaninie HNO3-HF-CH3COOH = Chemical etching of silicon wafers in a HNO3-HF-CH3COOH mixture
Autorzy:: Łazowy Barbara
Data publikacji:: 1976
Wydawca:: Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 9.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 3
Pomiar długozasięgowego odchylenia od płaskości powierzchni płytek Si za pomocą HR XRR
Pomiar długozasięgowego odchylenia od płaskości powierzchni płytek Si za pomocą HR XRR = Measurement of long range surface flatness deviation of Siu wafers by means of HR XRR method
Autorzy:: Mazur Krystyna
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Skocz do pozycji: 10.

Tytuł:: Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych = Some problems of improvement of geometrical parameters of polished silicon wafers
Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych
Prace ONPMP 1978 z. 2
Proceedings of ONPMP 1978 z. 2
Autorzy:: Piątkowski Bronisław
Współwytwórcy:: Bielecki Krzysztof
Czerwińska Anna
Data publikacji:: 1978
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

na półce

Szczegóły

Informacja

Wyszukujesz frazę "płytka" wg kryterium: Temat

Źródło danych

Dostawca treści

Rok wydania

Wydawca

Słowa kluczowe

Autor

Typ dokumentu

Język

Forma i typ