Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "short circuit test (SCT)" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Analysis of ARC in a vacuum chamber with an AMF
Analiza łuku w komorze próżniowej w osiowym polu magnetycznym
Autorzy:
Krasuski, K.
Berowski, P.
Dzierżyński, A.
Hejduk, A.
Kozak, S.
Sibilski, H.
Tematy:
wyłącznik próżniowy
komora próżniowa
próby zwarciowe
osiowe pole magnetyczne
vacuum circuit breaker (VCB)
vacuum chamber (VCBC)
short circuit test (SCT)
axial magnetic field (AMF)
Pokaż więcej
Data publikacji:
2015
Wydawca:
Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies