- Tytuł:
- Analiza składu chemicznego i fazowego cienkich warstw metalicznych
- Autorzy:
-
Lukaszkowicz, K.
Staszuk, M.
Nuckowski, P. - Tematy:
-
dyfraktometria rentgenowska
XPS
spektroskopia fotoelektronów w zakresie promieniowania X
GDS/GDOES
emisyjna spektroskopia optyczna z wyładowaniem jarzeniowym
cienkie warstwy metaliczne
X-ray diffractometry
x-ray photoelectron spectroscopy
glow discharge optical emission spectrometry
metallic thin layers - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2017
- Wydawca:
- Roble
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł