Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Sun, S Q" wg kryterium: Autor


Wyświetlanie 1-8 z 8
Tytuł:
Ontological multi-view failure modeling for ippd
Ontologiczne wielowidokowe modelowanie uszkodzeń wspierające zintegrowany rozwój produktu i procesów
Autorzy:
Ren, Y.
Sun, B.
Feng, Q.
Zeng, S.
Tematy:
ontologia uszkodzeń
wiedza
niezawodność
IPPD
failure ontology
knowledge
reliability
Pokaż więcej
Data publikacji:
2011
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Polskie Naukowo-Techniczne Towarzystwo Eksploatacyjne PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-8 z 8

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies