- Tytuł:
- Application of synchrotron radiation based X-ray reflectometry in analysis of TiO₂ nanolayers, unmodified and irradiated with Xeq⁺ ions
- Współwytwórcy:
-
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
Szary, Karol (fizyk) Autor
Świętokrzyskie Centrum Onkologii (Kielce)
Instytut Fizyki (Uniwersytet Jana Kochanowskiego ; Kielce)
Božičević Mihalić, Iva Autor
Teodorczyk, Marian Autor
Banaś, Dariusz Autor
Kubala-Kukuś, Aldona Autor
Stabrawa, Ilona Autor
Pajek, Marek Autor
Aquilanti, Giuliana Autor
Jagodziński, Paweł (fizyk) Autor
Stachura, Regina Autor
Semaniak, Jacek (1964- ) Autor - Tematy:
-
Nanomateriały
Jony ciężkie
Reflektometria rentgenowska
Ksenon
Promieniowanie synchrotronowe
Tlenek tytanu (IV) - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2020
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł