- Tytuł:
- Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning
- Autorzy:
-
Ganum, Adriana
Iskandar, D. N. F. Awang
Chin, Lim Phei
Fauzi, Ahmad Hadinata - Tematy:
-
automated optical inspection
machine learning
neural network
wafer imperfection identification - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2022
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł