- Tytuł:
- Comparison of gate leakage current components in metal-insulator-semiconductor structures with high-k gate dielectris
- Autorzy:
-
Janik, T.
Jakubowski, A.
Majkusiak, B.
Korwin-Pawłowski, M. - Tematy:
-
MIS structures
ultrathin dielectrics
high-k dielectrics - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2001
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł