- Tytuł:
- Analysis and investigation of Schottky barrier MOSFET current injection with process and device simulation
- Autorzy:
-
Schwarz, Mike
Calvet, Laurie E.
Snyder, John P.
Krauss, Tillmann
Schwalke, Udo
Kloes, Alexander - Tematy:
-
Poisson equation
device simulation
field emission
modeling
MOSFET
process simulation
Schottky barrier
Synopsys
TCAD
thermionic emission
tunneling current
równanie Poissona
emisja polowa
modelowanie
symulacja procesu
bariera Schottky'ego
emisja termoelektronowa
prąd tunelowy - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2018
- Wydawca:
- Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł