- Tytuł:
- The Impact of Externally Applied Mechanical Stress on Analog and RF Performances of SOI MOSFETs
- Autorzy:
-
Emam, M.
Houri, S.
Vanhoenacker-Janvier, D.
Raskin, J.-P. - Tematy:
-
cut-off frequency fT
intrinsic gain
mechanical stress
piezoresistance coefficient
SOI MOSFET - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2009
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł