- Tytuł:
- On-chip Parametric Test of R-2R Ladder Digital-to-Analog Converter and Its Efficiency
- Autorzy:
-
Arbet, D.
Stopjakova, V.
Brenkus, J.
Gyepes, G. - Tematy:
-
wykrywanie uszkodzeń
uszkodzenie katastroficzne
uszkodzenia parametryczne
test parametryczny
mieszany test sygnału
fault detection
catastrophic faults
parametric faults
on-chip parametric test
mixed-signal test - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł