- Tytuł:
- Focused Ion Beam Imaging of Defects in Multicrystalline Si for Photovoltaic Application
- Autorzy:
-
Miyamura, Y.
Sekiguchi, T.
Chen, J.
Li, J.
Watanabe, K.
Kumagai, K.
Ogura, A. - Tematy:
-
61.05.-a
61.85.+p
61.72.Ff - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2014-04
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł