- Tytuł:
- Theoretical model to determine the Porosity and refractive index of porous silicon type-n by using Atomic force microscope
- Autorzy:
-
Abdulridha, Wasna'a M.
Abd, Ahmed N.
Dawood, Mohammed O. - Tematy:
-
Atomic Force Microscope
Porous silicon
n-PS
porosity
refractive index
thickness - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2016
- Wydawca:
- Przedsiębiorstwo Wydawnictw Naukowych Darwin / Scientific Publishing House DARWIN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł