- Tytuł:
-
Effect of RF magnetron sputtering conditions on microstructure and X-ray characteristics of yttria-stabilized zirconia thin films = Wpływ warunków sputeringu magnetronowego na mikrostrukturę i charakterystykę rentgenowską cienkich warstw dwutlenku cyrkonu stabilizowanego tlenkiem itru
Materiały Elektroniczne 1996 T.24 nr 2/3 - Autorzy:
- Tomaszewski Henryk
- Współwytwórcy:
-
De Roo Nico
De Gryse Roger
Haemers Johan - Data publikacji:
- 1996
- Wydawca:
- ITME
- Dostawca treści:
- RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka