Wszystkie pola: Piątkowski Bronisław

Skocz do pozycji: 1.

Tytuł:: Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych = Some problems of improvement of geometrical parameters of polished silicon wafers
Niektóre problemy poprawy parametrów geometrycznych polerowanych płytek krzemowych
Prace ONPMP 1978 z. 2
Proceedings of ONPMP 1978 z. 2
Autorzy:: Piątkowski Bronisław
Współwytwórcy:: Bielecki Krzysztof
Czerwińska Anna
Data publikacji:: 1978
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 2.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2002 T.30 nr 3
Badania nad mechanicznym i chemicznym pocienianiem termicznie połączonych płytek krzemowych
Badania nad mechanicznym i chemicznym pocienianiem termicznie połączonych płytek krzemowych = The investigation of the mechanical and chemical thinning of silicon bonded wafers
Autorzy:: Piątkowski Bronisław
Współwytwórcy:: Zabierowski Piotr
Miros Artur
Data publikacji:: 2002
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 3.

Tytuł:: Badanie mikroporowatości polerowanej powierzchni płytek krzemowych w celu dostosowania sposobu ich wytwarzania do nowych wymagań jakościowych
Badanie mikroporowatości polerowanej powierzchni płytek krzemowych w celu dostosowania sposobu ich wytwarzania do nowych wymagań jakościowych = Study of micro-roughness of the polished surface of silicon wafers aimed at fulfilling the new quality requirements
Materiały Elektroniczne 2012 T.40 nr 2
Autorzy:: Piątkowski Bronisław
Współwytwórcy:: Szymański Sławomir
Data publikacji:: 2012
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 4.

Tytuł:: Łączenie termiczne płytek krzemowych
Materiały Elektroniczne 1996 T.24 nr 4
Łączenie termiczne płytek krzemowych = Thermal bonding of silicon wafers
Autorzy:: Zabierowski Piotr
Współwytwórcy:: Piątkowski Bronisław
Data publikacji:: 1996
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 5.

Tytuł:: Wpływ warunków polerowania na chropowatość powierzchni płytek krzemowych = Influence of polishing condictins on surface roughness of silicon wafers
Wpływ warunków polerowania na chropowatość powierzchni płytek krzemowych
Prace ONPMP 1978 z. 2
Proceedings of ONPMP 1978 z. 2
Autorzy:: Czerwińska Anna
Współwytwórcy:: Bielecki Krzysztof
Piątkowski Bronisław
Data publikacji:: 1978
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Skocz do pozycji: 6.

Tytuł:: Materiały Elektroniczne 2008 T.36 nr 1
Zastosowanie Fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni do badania interfejsu SiO2//Si w łączonych strukturach SOI
Zastosowanie Fourierowskiej spektroskopii absorpcyjnej w podczerwieni do badania interfejsu SiO2//Si w łączonych strukturach SOI = Infrared spectroscopic analysis of the SiO2??Si interface of SOI structures
Autorzy:: Możdżonek Małgorzata
Współwytwórcy:: Kozłowski Andrzej
Piątkowski Bronisław
Data publikacji:: 2008
Wydawca:: ITME
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych

Książka

Szczegóły

Informacja