Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki BIBLIOTEKA UCZELNIANA PANS W PRZEMYŚLU  Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBIBLIOTEKA UCZELNIANA PANS W PRZEMYŚLU 

Wyszukujesz frazę "Sikorski, Krzysztof" wg kryterium: Wszystkie pola

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-2 z 2
    Tytuł:
    Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw = X-ray microanalysis of thin films
    Proceedings of ITME 1983 z. 8
    Mikroanaliza rentgenowska cienkich warstw
    Prace ITME 1983 z. 8
    Autorzy:
    Sikorski Krzysztof
    Współwytwórcy:
    Szummer Krzysztof
    Data publikacji:
    1983
    Wydawca:
    Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
    Dostawca treści:
    RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
    Książka
    Szczegóły
    Tytuł:
    Materiały Elektroniczne 1987 nr 2(58)
    Metody ilościowej mikroanalizy rent5geowskiej cienkich warstw na podłożach = Correction methods in quantitative electron probe X-ray microanalysis of thin coatings
    Metody ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich warstw na podłożach
    Autorzy:
    Sikorski Krzysztof
    Współwytwórcy:
    Szummer Andrzej
    Data publikacji:
    1987
    Wydawca:
    Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
    Dostawca treści:
    RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
    Książka
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-2 z 2

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies