Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "multiplicative component of error" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-1 z 1
Tytuł:
Disassembly-free metrological control of analog-to-digital converter parameters
Autorzy:
Bubela, Tetiana
Kochan, Roman
Więcław, Łukasz
Yatsuk, Vasyl
Kuts, Victor
Yatsuk, Jurij
Tematy:
metrological support
analog-to-digital converter
non-disassembly control
cyber-physical system
nonlinearity
additive component of error
ACE
multiplicative component of error
Pokaż więcej
Data publikacji:
2022
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
    Wyświetlanie 1-1 z 1

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies