Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

English (EN)·Polski (PL)·Yкраїнський (UK)
Przejdź do strony domowej biblioteki BIBLIOTEKA UCZELNIANA PANS W PRZEMYŚLU  Link otwiera się w nowym oknie Logo biblioteki Prolib Integro - strona głównaBIBLIOTEKA UCZELNIANA PANS W PRZEMYŚLU 

Wyszukujesz frazę "Mikroskop - stosowanie - fizyka" wg kryterium: Temat

  Lista filtrów
Wyrównaj
    Wyświetlanie 1-4 z 4
    Tytuł:
    Effect of N₂⁺ ion implantation and thermal annealing on near-surface layers of implanted GaAs
    Współwytwórcy:
    Droździel, Andrzej
    Kulik, Mirosław
    Surowiec, Zbigniew (fizyk)
    Rzodkiewicz, Witold
    Filiks, Janusz
    Tematy:
    Tlenki - fizyka
    Mikroskop sił atomowych - stosowanie
    Spektroskopia rozpraszania wstecznego Rutherforda
    Elipsometria
    Implantacja jonów
    Azot - fizyka
    Arsenek galu - fizyka
    Pokaż więcej
    Data publikacji:
    2015
    Dostawca treści:
    Academica
    Artykuł
    Szczegóły
      Wyświetlanie 1-4 z 4

      Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies