- Tytuł:
- High-field current transport and charge trapping in buried oxide of SOI materials under high-field electron injection
- Autorzy:
-
Nazarov, A.N.
Houk, Y.
Kilchytska, V.I. - Tematy:
-
Fowler-Nordheim current
trap-assisted tunneling
silicon-on-insulator
buried oxide
SIMOX
UNIBOND
anode hole injection
band-to-band impact ionization - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2004
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł