- Tytuł:
- Experimental verification of semiconductor diode aging based on thermal analyzes and numerical methods
- Współwytwórcy:
-
Politechnika Częstochowska
Podešva, Jiří Autor
Sokół, Krzysztof (mechanika) Autor
Ptak, Paweł Autor - Tematy:
-
Półprzewodniki
Starzenie (materiałoznawstwo)
Analiza numeryczna
Analiza termiczna
Modele matematyczne
Diody - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2021
- Dostawca treści:
- Academica
Artykuł