- Tytuł:
- Advanced Characterization of Material Properties on the Nanometer Scale Using Atomic Force Microscopy
- Autorzy:
-
Fenner, M.
Wu, S.
Yu, J.
Huber, H.
Kienberger, F. - Tematy:
-
77.55.-g
07.79.-v
68.37.Ps
68.37.Uv
07.57.Pt - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2012-02
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł