- Tytuł:
- Characterized Microstructure and Electrical Properties of Hydrogenated Nanocrystalline Silicon Films by Raman and Electrical Conductivity Spectra
- Autorzy:
-
Xiao-Yong, Gao
Jian-Tao, Zhao
Yu-Fen, Liu
Qing-Geng, Lin
Yong-Sheng, Chen
Jin-Hua, Gu
Shi-E, Yang
Jing-Xiao, Lu - Tematy:
-
71.23.Cq
73.61.-r - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2009-03
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł