- Tytuł:
- A Bayesian virtual metrology for quality inspection of mobile repeater systems
- Autorzy:
-
Kim, S. D.
Kim, J. S.
Mun, B. M.
Bae, S. J. - Tematy:
-
Bayesian approach
regression
conjugate priors
ICS repeater
Markov chain Monte Carlo - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2016
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł