- Tytuł:
- Semiconductor contact layer characterization in a context of hall effect measurements
- Autorzy:
-
Kowalewski, Andrzej
Wróbel, Jarosław
Boguski, Jacek
Gorczyca, Kinga
Martyniuk, Piotr - Tematy:
-
metal contact
contact layer
contact resistance
Hall effect
resistivity
van der Pauw method
MSM structure
semiconductors’ characterization - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2019
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Czytelnia Czasopism PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł