- Tytuł:
- Impact Ionization Process in Deep Submicron MOSFET
- Autorzy:
-
Speransky, D.
Borzdov, A.
Borzdov, V. - Tematy:
-
MOSFET
metoda Monte Carlo
jonizacja zderzeniowa
energia progowa
Monte Carlo
impact ionization
threshold energy - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2012
- Wydawca:
- Politechnika Łódzka. Wydział Mikroelektroniki i Informatyki
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł