Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "Crystal" wg kryterium: Temat


Tytuł:
Wzrost i Charakterystyka Kryształów. Sympozjum Naukowe, 6-7 kwiatnia 2000 r., Katowice, Polska. Materiały = Crystal Growth and Characterization
Prace ITME 2000 z.56
Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych.
Wzrost i Charakterystyka Kryształów. Sympozjum Naukowe, 6-7 kwiatnia 2000 r., Katowice, Polska. Materiały
Data publikacji:
2000
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1996 T.24 nr 1
Udział pracowników ITME w konferencjach 1996 T.24 nr 1 = ITME employees participation in conference 1996 T.24 nr 1
Udział pracowników ITME w konferencjach 1996 T.24 nr 1
Data publikacji:
1996
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Prace ITME 1993 z. 43
Wzrost monokryształów wieloskładnikowych związków tlenkowych metodą Chochralskiego = Multioxide compounds crystal growth by Czochralski
Wzrost monokryształów wieloskładnikowych związków tlenkowych metodą Chochralskiego
Autorzy:
Berkowski Marek
Data publikacji:
1993
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Konwekcja w układach wzrostu kryształów = Convection in crystal growth systems
Konwekcja w układach wzrostu kryształów
Materiały Elektroniczne 1994 T.22 nr 1
Autorzy:
Grasza Krzysztof
Data publikacji:
1994
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1997 T.25 nr 2
Udział pracowników ITME w konferencjach 1997 T.25 nr 2
Udział pracowników ITME w konferencjach 1997 T.25 nr 2 = ITME employees participation in conference 1997 T.25 nr 2
Data publikacji:
1997
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:
Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:
Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:
2016
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:
Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:
Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:
2015
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Stoichiometry control of compound semiconductor crystals. Part 1
Stoichiometry control of compound semiconductor crystals. Part 1 =
Materiały Elektroniczne 1996 T.24 nr 4
Autorzy:
Nishizawa Jun-ichi
Współwytwórcy:
Oyama Yutaka
Data publikacji:
1996
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Wzrost i obróbka monokryształów szafiru o średnicach 1" i 2" = Growth and machining of 1" and 2" of sapphire
Wzrost i obróbka monokryształów szafiru o średnicach 1" i 2"
Materiały Elektroniczne 2003 T.31 nr 3/4
Autorzy:
Hofman Władysław
Współwytwórcy:
Kisielewski Jarosław
Data publikacji:
2003
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies