- Tytuł:
-
Problemy metrologiczne związane z wyznaczaniem koncentracji centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych o szerokiej przerwie energetycznej
Metrological issues related to estimation of defect center concentration in high-resistivity wide bandgap semiconductors - Autorzy:
-
Miczuga, M.
Kamiński, P.
Kozłowski, P.
Kopczyński, K. - Tematy:
-
centra defektowe
emisja termiczna
HRPITS
SI GaP
defect centers
thermal emission - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2011
- Wydawca:
- Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł