- Tytuł:
- Spectroscopic Ellipsometry Analysis of Rapid Thermal Annealing Effect on MBE Grown GaAs1-x-Nx
- Autorzy:
-
Sedrine, N.
Rihani, J.
Harmand, J.
Chtourou, R. - Tematy:
-
GaAs11-x -Nx
optical constants
semiconductors
spectroscopic ellipsometry - Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2009
- Wydawca:
- Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł