- Tytuł:
- X-Ray Diffraction Study of CeT₂Al₁₀ (T = Ru, Os) at Low Temperatures and under Pressures
- Autorzy:
-
Kawamura, Y.
Hayashi, J.
Takeda, K.
Sekine, C.
Tanida, H.
Sera, M.
Nakano, S.
Tomita, T.
Takahashi, H.
Nishioka, T. - Tematy:
- 61.50.Ks
- Pokaż więcej
- Data publikacji:
- 2017-04
- Wydawca:
- Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
- Dostawca treści:
- Biblioteka Nauki
Artykuł