Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Wyszukujesz frazę "X-ray method" wg kryterium: Temat


Wyświetlanie 1-5 z 5
Tytuł:
Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich = Correction methods in quantitative x-ray microanalysis of light elements
Prace ITME1983 z. 7
Metody korekcyjne ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pierwiastków lekkich
Autorzy:
Kaczyński Łukasz
Data publikacji:
1983
Wydawca:
Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Badanie monokryształów tlenkowych za pomocą synchrotronowej i konwencjonalnej rentgenowskiej topografii dyfrakcyjnej
Investigation of oxide crystals by means of synchrotron and conventional X-raydiffraction topography Wojciech Wierzchowski, Agnieszka Malinowska, Krzysztof Wieteska, Edyta Wierzbicka, Krystyna Mazur, Maria Lefeld - Sosnowska, Marek Świrkowicz, Tadeusz Łukasiewicz.
Autorzy:
Wierzchowski Wojciech
Współwytwórcy:
Mazur Krystyna
Łukasiewicz Tadeusz
Lefeld - Sosnowska Maria
Wierzbicka Edyta
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Wieteska Krzysztof
Data publikacji:
2016
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Electronic Materials T 43 Nr 1 2015
X-ray diffraction topography of lattice defects in MgAl2O4 and ScAlMgO4 crystals grown under different technological conditions
Rentgenowska topografia dyfrakcyjna defektów sieci krystalicznej w monokryształach MgAl2O4 i ScAlMgO4 otrzymywanych w różnych warunkach technologicznych
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:
Wierzbicka Edyta
Współwytwórcy:
Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Kisielewski Jarosław
Malinowska Agnieszka
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:
2015
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Materiały Elektroniczne 1986 nr 4(56)
Podwyższenie wiarygodności rentgenograficznych badań materiałowych przez zastosowanie metody regulacji
Podwyższenie wiarygodności rentgenograficznych badań materiałowych przez zastosowanie metody regulacji = On greater reliability of X-ray materials testing by application of regularization method
Autorzy:
Frydrychowicz Jerzy
Współwytwórcy:
Świłło Ryszard
Kojdecki Marek
Data publikacji:
1987
Wydawca:
Wydaw. Przemysłu Maszynowego "WEMA"
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
Tytuł:
Investigation of the defect structure in the new types of undoped and Pr-doped scintillator single crystals of mixed lutetium-yttrium-aluminum garnets [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG)
Badanie struktury defektowej w nowych rodzajach scyntylacyjnych monokryształów mieszanych granatów lutetowo-itrowo-glinowych [LuxY1-x]Al5O12 (LuYAG) niedomieszkowanych oraz aktywowanych prazeodymem
Electronic Materials T. 43 Nr 1 2015
Materiały Elektroniczne T. 43 Nr 1
Autorzy:
Malinowska Agnieszka
Współwytwórcy:
Wierzchowski Wojciech
Mazur Krystyna
Romaniec Magdalena
Drozdowski Winicjusz
Romaniec, Magdalena
Kisielewski Jarosław
Wierzbicka Edyta
Świrkowicz Marek
Szyrski Włodzimierz
Data publikacji:
2015
Wydawca:
ITME
Dostawca treści:
RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
Książka
    Wyświetlanie 1-5 z 5

    Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies