Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych = Application of the Mueller calculus for the analysis of stress-induced birefingence in semiconductors

Tytuł:: Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych = Application of the Mueller calculus for the analysis of stress-induced birefingence in semiconductors
Prace ITME 1988 z. 25
Zastosowanie metody Muellera do analizy zjawiska dwójłomności wymuszonej mechanicznie w materiałach półprzewodnikowych
Proceedings of ITME 1988 z. 25
Autorzy:: Bajor Andrzej
Współwytwórcy:: Adamkiewicz Grażyna
Słowa kluczowe:: dwójłomność wymuszona mechanicznie
kryształ półprzewodnikowy
Elektronika - czasopismo - materialy
Materiały elektroniczne
Electronic materials
stress-induced birefringence
Mueller calculus
metoda Muellera
Electronic - journal - material
semiconductor crystal
Data publikacji:: 1988
Wydawca:: Wydaw. Przem. Masz. "WEMA"
Język:: polski
Linki:: https://rcin.org.pl/dlibra/publication/edition/31768/content Link otwiera się w nowym oknie
Prawa:: Prawa zastrzeżone - dostęp nieograniczony
Rights Reserved - Free Access
Źródło:: http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmeEN/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_6112
http://katalog.pan.pl/webpac-bin/218bitmePL/wgbroker.exe?new+-access+top+search+open+NR+kv_6112
ITME, sygn. dostępny
Dostawca treści:: RCIN - Repozytorium Cyfrowe Instytutów Naukowych
: Książka

Przejdź do źródła

47 s. : il. 24 cm.

Bibliogr. s. 45-46

Informacja