Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy

Tytuł:
Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy
Współwytwórcy:
Politechnika Wrocławska. Wydział Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki
Paszkiewicz, Bogdan
Tłaczała, Marek
Macherzyński, Wojciech
Szyszka, Adam
Radziewicz, Damian
Ściana, Beata
Data publikacji:
2011
Język:
angielski
Prawa:
http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Źródło:
Biblioteka Narodowa
Dostawca treści:
Academica
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
Materiały z konferencji: 10th Electron Technology ELTE 2010 and 34th International Microelectronics and Packaging IMAPS/CPMT Poland Joint Conference; Wrocław, 22-25 September 2010.

Bibliogr.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies