Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

Intelligent measuring system for characterization of defect centres in semi-insulating materials by photoinduced transient spectroscopy

Szczegóły
Opis

Tytuł:: Intelligent measuring system for characterization of defect centres in semi-insulating materials by photoinduced transient spectroscopy
Współwytwórcy:: Kamiński, Paweł
Kozłowski, Roman
Pawłowski, Michał (elektronika)
Jankowski, Stanisław (elektronika)
Wierzbowski, Mariusz
Data publikacji:: 2005
Język:: angielski
Prawa:: http://www.europeana.eu/rights/rr-r/
Publikacja chroniona prawem autorskim - reprodukcja cyfrowa dostępna w czytelniach BN i na terminalach Academiki
Źródło:: Biblioteka Narodowa
Dostawca treści:: Academica
: Artykuł

Przejdź do źródła

Bibliogr.

Streszcz. pol.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies

Informacja

Intelligent measuring system for characterization of defect centres in semi-insulating materials by photoinduced transient spectroscopy