Kompatybilność elektromagnetyczna urządzeń górniczych w świetle doświadczeń

Omówiono problemy wynikłe w pracy urządzeń podczas oceny ich funkcjonowania w trakcie badań kompatybilności elektromagnetycznej, m.in. na przykładzie wyrobów przeznaczonych do pracy w podziemiach kopalń. Badania zostały wykonane w Laboratorium Badań Kompatybilności Elektromagnetycznej (EMC) w Instytucie Technik Innowacyjnych EMAG w Katowicach. Prezentowane wyniki badań/pomiarów są efektem testów przeprowadzonych w warunkach laboratoryjnych i nie dotyczą wyników badań/pomiarów urządzeń wykonywanych poza siedzibą laboratorium - w miejscu instalacji urządzeń, tzw. pomiarów IN SITU. Problemy przedstawiono na przykładach badań odporności na serie szybkich elektrycznych stanów przejściowych [9] (Electrical Fast Transient EFT/BURST), zapady napięcia, krótkie przerwy i zmiany napięcia [10] oraz na pomiarach elektromagnetycznych zaburzeń promieniowanych [8]. Ze względu na poufność informacji (polityka jakości akredytowanego laboratorium badawczego), szczegóły dotyczące badanych urządzeń zostały utajnione.

The article features the problems concerning the operations of mining devices that were detected at their evaluation during electromagnetic compatibility tests. These tests were applied to devices designed to work in the underground of mines. The tests were carried out in the Electromagnetic Compatibility Laboratory of the Institute of Innovative Technologies EMAG in Katowice. The presented test/measurement results refer to the tests carried out in laboratory conditions and do not refer to tests/measurements conducted outside the laboratory - in the place where the devices are installed, the so-called IN STTU measurements. The problems were presented based on resistance tests to Electrical Fast Transient EFT/BURST [9], voltage dips, short breaks and changes in voltage [10], as well as the measurements of electromagnetic radiation disturbances [8]. Due to information confidentiality (quality polity of the accredited testing laboratory), the details concerning the examined devices are confidential.