X-Ray Photoelectron Spectroscopy - Methodology and Application

Szczegóły
Opis

Tytuł:: X-Ray Photoelectron Spectroscopy - Methodology and Application
Autorzy:: Papis-Polakowska, E.
White, R.
Deeks, C.
Mannsberger, M.
Krajewska, A.
Strupinski, W.
Płocinski, T.
Jankowska, O.
Tematy:: 79.60.-i
81.05.ue
68.47.Gh
68.35.bg
68.35.bj
Data publikacji:: 2014-04
Wydawca:: Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Język:: angielski
Prawa:: Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Źródło:: Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 4; 1061-1064
0587-4246
1898-794X
Dostawca treści:: Biblioteka Nauki
: Artykuł

Przejdź do źródła

The crucial measurements aspects of X-ray photoelectron spectroscopy, such as chemical state analysis, depth profiling, mapping, and thickness calculation have been presented. The metal alloys, $Ti_2O_5$, graphene and type-II InAs/GaSb superlattice structures have been examined by using the new Thermo Scientific K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer.

Informacja

X-Ray Photoelectron Spectroscopy - Methodology and Application