Informacja

Drogi użytkowniku, aplikacja do prawidłowego działania wymaga obsługi JavaScript. Proszę włącz obsługę JavaScript w Twojej przeglądarce.

Tytuł pozycji:

X-Ray Photoelectron Spectroscopy - Methodology and Application

Tytuł:
X-Ray Photoelectron Spectroscopy - Methodology and Application
Autorzy:
Papis-Polakowska, E.
White, R.
Deeks, C.
Mannsberger, M.
Krajewska, A.
Strupinski, W.
Płocinski, T.
Jankowska, O.
Tematy:
79.60.-i
81.05.ue
68.47.Gh
68.35.bg
68.35.bj
Data publikacji:
2014-04
Wydawca:
Polska Akademia Nauk. Instytut Fizyki PAN
Język:
angielski
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone. Swoboda użytkownika ograniczona do ustawowego zakresu dozwolonego użytku
Źródło:
Acta Physica Polonica A; 2014, 125, 4; 1061-1064
0587-4246
1898-794X
Dostawca treści:
Biblioteka Nauki
Artykuł
  Przejdź do źródła  Link otwiera się w nowym oknie
The crucial measurements aspects of X-ray photoelectron spectroscopy, such as chemical state analysis, depth profiling, mapping, and thickness calculation have been presented. The metal alloys, $Ti_2O_5$, graphene and type-II InAs/GaSb superlattice structures have been examined by using the new Thermo Scientific K-Alpha X-ray Photoelectron Spectrometer.

Ta witryna wykorzystuje pliki cookies do przechowywania informacji na Twoim komputerze. Pliki cookies stosujemy w celu świadczenia usług na najwyższym poziomie, w tym w sposób dostosowany do indywidualnych potrzeb. Korzystanie z witryny bez zmiany ustawień dotyczących cookies oznacza, że będą one zamieszczane w Twoim komputerze. W każdym momencie możesz dokonać zmiany ustawień dotyczących cookies